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椭偏膜厚测量仪 |
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椭圆偏振光谱技术是近年来随着现代科技的发展而迅速发展起来的光学无损检测方法,它已越来越广泛的用于介电、半导体、金属、有机物等各种材料的光学特性、结构特征、生长过程和材料质量的快速测试与研究。 |
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此红外椭圆偏振光谱仪(简称椭偏)是当今国际上唯一一种红外波段、单色仪分光形式的椭圆偏振光谱仪,它具有高准确度,高精度和比基于红外傅里叶光谱仪的椭偏光谱仪便宜得多等优点。 |
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目前已有紫外-近红外波段椭圆偏振光谱仪、可见波段椭圆偏振光谱仪、单色椭偏仪等全波段系列产品,其性能参数国内领先、达到国际先进水平,是具有自主知识产权的高精度、高灵敏度分析测试科学仪器。以其国际一流的性能和性价比,已越来越多的销往美国、欧洲等国外市场。该仪器将成为国内外各研究单位、高等院校以及高新技术企业不可缺少的研究设备和测试分析仪器。 |
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PhE-101
单色椭圆偏振分析仪 |
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性能: |
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·光源:He-Ne激光器 |
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·光斑直径:
1-3 mm |
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·光束发散角:
≤0.1° |
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·入射角范围:
20°to 90°,5°/步 |
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·重复性:
Psi=±0.01°, Delta=±0.02° |
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·样品台:Φ160mm,Φ200mm(可选) |
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·显微光斑测量:10
微米(可选) |
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软件功能: |
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1.Microsoft
Windows 32位操作环境; |
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2.集成化自动数据采集、数据分析软件; |
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3.模拟产生预期任何材料结构的椭偏参数Psi和Delta; |